可程控邏輯腳位模塊
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產(chǎn)品名稱: 可程控邏輯腳位模塊
產(chǎn)品型號: Model 36010
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡單介紹
應(yīng)用范圍
Logic and mixed signal validation and test
Digital pattern generator and vector capture
Consumer IC and electronics test
Logic test subsystem for DC and RF ATE
可程控邏輯腳位模塊
的詳細(xì)介紹
主要特色：
- 標(biāo)準(zhǔn)PXI 3U 尺寸
- Date rate*高為100MHz
- 8個per-pin, per-cycle的 I/O雙向控制通道
- 可擴充至64 pin
- 32M sequence command 內(nèi)存
- 17種以上的pattern sequence 指令
- Per-pin 控制架構(gòu)
- 每一腳位有 32M vector 內(nèi)存
- 每一腳位有 32 組 clock 及 waveform
- 可快速切換 Waveforms 種類
- 可編寫的tri-level driver, 分辨率達(dá) 610uV
- 每個模塊皆具備高電壓驅(qū)動器
- Per-channel PMU
- Per-channel 時間量測組件
- 支持 scan pattern 功能
- Windows 2000/XP 操作系統(tǒng)
- 支援 LabView 與 LabWindows
- 可選購專用軟件 CRISP
36010 可程控 100MHz 邏輯腳位模塊，可用于特性分析、驗證以及數(shù)字 / 混合訊號 IC或電子組件測試。每個模塊包含一組Sequence Pattern Generator以及8個I/O雙向控制通道。36010*多可擴充達(dá)64組通道以符合不同用途，此外，基于per-pin的架構(gòu), 每個通道皆配有32M的vector memory、32組clock、32組waveform與1個 PMU channel，與其他類似性能的 ATE 設(shè)備相比， 36010 可提供快速且**的測試功能。
Sequence Pattern Generator
36010 可程控邏輯腳位模塊提供17種以上的 sequence 指令，包括 jump、match、 loop、 repeat等，可以控制pattern的執(zhí)行流程。 36010 配有 32M的 sequence command 內(nèi)存，允許每行 vector 擁有獨立的sequence command 來控制 pattern的執(zhí)行流程。此外, 每個Sequence Pattern Generator 可以支持*多8個Logic Pin Electronics Cards, 即表示*多可支持64 個I/O channels 與8個 DUT同時測試。
邏輯腳位模塊
每張邏輯腳位卡皆采用 Chroma® PINF ICs 來達(dá)到高精準(zhǔn)的timing及彈性化 waveform output 功能。Per-pin timing generator 提供32組clock，包含6個可編輯的edges。至于 per-pin waveform generator則可提供每組I/O雙向控制通道 32 組可編輯的 waveform，具有快速切換的特性。在 analog的功能中，邏輯腳位模塊具有tri-level的 driver 與 comparator，可編寫分辨率達(dá)610uV， 36010 同時配有 active load、per-pin PMU 以及高電壓驅(qū)動功能。另外，36010 也支持scan pattern 功能，可進(jìn)行掃描測試。
專用軟件 CRISP(Chroma Integrated Software Platform)
除了支持 LabView 與 LabWindows 環(huán)境之外, Chroma® 也提供了專用軟件CRISP作為選擇。為了涵蓋各種IC debugging的需求，CRISP包含許多軟件模塊，CRISP的作業(yè)平臺為Microsoft Windows XP®，使用 C++ 作為測試程序語言，提供用戶簡易、彈性化以及快速的圖形化接口軟件來符合各種需求。Project IDE tool 可以讓測試程序的產(chǎn)生更為簡單與快速；在 test program debugging 的場合，CR I S P 提供完整的 d e b u g gi n g 軟件工具，包含 Pl an Debugge r、Da t a log、 Waveform、Scope、SHMOO、Pin Margin、 Wafer Map、Summary、Histogram、STDF、Test Condition Monitor、Pattern Editor等完整的工具給使用者。
