自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)
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產(chǎn)品名稱: 自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)
產(chǎn)品型號(hào): 3240
產(chǎn)品展商: Chroma
產(chǎn)品文檔: 無相關(guān)文檔
簡(jiǎn)單介紹
可靠的高速Pick&Place分類機(jī)
同步吸嘴雙取及雙放設(shè)計(jì)
具備處理QFP的能力
簡(jiǎn)易編輯通訊定義(ECD)功能
無測(cè)試座損壞的問題
浮動(dòng)頭可有效率衡測(cè)試壓力
發(fā)明**字號(hào)190373與190377
實(shí)時(shí)性監(jiān)督程序功能(選購(gòu))
自動(dòng)教導(dǎo)及校準(zhǔn)裝置
自動(dòng)測(cè)試壓力學(xué)習(xí)
IC殘留檢測(cè)功能
自動(dòng)化系統(tǒng)功能測(cè)試機(jī)
的詳細(xì)介紹
產(chǎn)品特色
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可靠的高速Pick&Place分類機(jī)
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同步吸嘴雙取及雙放設(shè)計(jì)
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具備處理QFP的能力
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簡(jiǎn)易編輯通訊定義(ECD)功能
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無測(cè)試座損壞的問題
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浮動(dòng)頭可有效率衡測(cè)試壓力
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發(fā)明**字號(hào)190373與190377
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實(shí)時(shí)性監(jiān)督程序功能(選購(gòu))
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自動(dòng)教導(dǎo)及校準(zhǔn)裝置
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自動(dòng)測(cè)試壓力學(xué)習(xí)
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IC殘留檢測(cè)功能
Chroma 3240是一款新型的測(cè)試機(jī)可供多組PCB level平行測(cè)試的大量生產(chǎn)機(jī)具。3240可配合多數(shù)不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP、TQFP、μBGA、PGA 及CSP封裝。測(cè)試機(jī)采用取放的技術(shù)，可從JEDEC夾盤來拾取IC，移動(dòng)到測(cè)試位置，然后將測(cè)試后產(chǎn)品放置于適當(dāng)之Tray盤。測(cè)試機(jī)可提供90度旋轉(zhuǎn)的需求，以符合各種IC方向性，使各個(gè)IC接腳同一方向。
Chroma 3240以并排平行方式，進(jìn)行測(cè)試。在高溫下具有自動(dòng)溫度冷卻(ATC)功能，其范圍從攝氏50度到125 度可測(cè)試1至4個(gè)測(cè)試座。
